聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM)设备（搬运搬迁装卸）

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如需要Dual Beam FIB-SEM在材料科学领域的一些典型应用，‌‌实‍验‌室‍搬‌迁‍包括透射电镜( TEM)样品制备，材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析搬迁搬运装卸等请联系亚瑟4000810031‌‌实‍验‌室‍搬‌迁‍